涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042
产品描述
根据探头的不同，手持式设备具有清晰排列的显示屏，可确定可磁化基体上非磁性层的厚度（根据DIN EN ISO 2178）以及使用涡流原理确定非磁性导电基材上的非导电层的厚度 （根据DIN EN ISO 2360）。
外部探头具有多种型号，因此可以解决最多样化的测试问题。
关键特点
- 多种校准选项
- 多种显示模式，可最佳适应测量任务 *
- 极限值输入和监控 *
- 测量值存储 * 与 Windows 下一样简单的文件管理
- 多样化的统计评估选项
- Windows 程序中的数据传输，可选择使用 PC 程序软件 iCom 软件或者EasyExport
*视扩展阶段而定
版本
LEPTOSKOP 2042 (订货号: 2042.001)
设备扩展阶段
- 模块“ Statistik”（订货号：2911.001）
- 模块“ Statistik und Datenspeicher”（订货号：2911.002）
标准包装
- Fe 基本包装 (订货号: 2042.901)
- NFe 基套装(订货号: 2042.902)
- Fe/NFE基套装 (订货号: 2042.904)
统计数据包
- 统计数据包 Fe (订货号: 2042.911)
- 统计数据包NFe (订货号: 2042.912)
- Fe / NFe组合统计软件包 (订货号: 2042.914)
Data 数据包
- Data数据包 Fe (订货号: 2042.921)
- Data 数据包NFe (订货号: 2042.922)
- Fe / NFe组合统计软件包 (订货号: 2042.924)
The LEPTOSKOP 2042 在坚固的保护箱中
